Chroma ATE Inc.

形貌量測系統

形貌量測系統

致茂電子為測試與自動化解決方案的領導廠商,不僅有客制化量測儀器、測試系統、自動化生產線與智慧制造系統的整合能力; 多年來于半導體晶片測試領域,致茂更是深耕多年并擁有眾多的產品線,從研發至量產階段所需的設備如:ATE大型測試系統、IC分選機以及PXI/PXIe小型化測試平臺,皆有完整相對應產品提供客戶最適合的選擇。

致茂完整的半導體解決方案涵蓋了不同的晶片測試應用如:消費型晶片 (微處理器、音頻晶片、電腦/行動裝置周邊晶片等)、電源管理晶片 (線性穩壓器、直流轉換器、交流轉換器、LED驅動器等)、射頻晶片 (無線網路、藍芽、行動通訊等)、以及特定領域測試 (影像傳感器、無線射頻辨識等)。

在自動化分選設備的部分,應用范圍則包含溫度控制、特殊產品處理技術、裸芯片處理, Pick and Place測試機臺、CIS統包解決方案、系統層級測試方案。

致茂完整的半導體測試解決方案不僅協助客戶控制測試成本,同時仍維持品質表現,是提高競爭力的最佳方案。

簡介手冊: 半導體IC測試解決方案 (PDF/8.20MB)

形貌量測系統

北京赛车pk10私彩 佳永配资体验 今天六开彩开奖+结果 股票推荐排行 安徽十一选五中奖规则 排列三技巧讲解视频 环岛赛开奖结果 题材陕西十一选五走势图 广西11选5彩票 体彩排列3平均值走势图 真钱捕鱼游戏 临沂期货配资公司 上海11选5免费计划网站 云南快乐10分推荐网 快乐十分开奖结果云南一定牛 福利彩票3d家园 掌悦理财官网新闻